1. <tbody id="jndlx"><span id="jndlx"></span></tbody>
      <menuitem id="jndlx"><strong id="jndlx"><menu id="jndlx"></menu></strong></menuitem>
      1. <tbody id="jndlx"><div id="jndlx"></div></tbody>
      2. <track id="jndlx"></track>

        產品目錄

        PRODUCT CENTER

        熒光分布成像系統

        發布時間:2020-01-08 09:39:57瀏覽次數:
        產品創新點
        上市時間:2019年10月
        創新點主要有兩個方面:硬件方面:全球首創將將熒光分光度計與CMOS相機結合在一起,能夠同時觀察樣品光譜和圖像的技術。軟件方面:運用了智能光譜算法,可以獲取樣品任意區域的光譜信息。常規的熒光分光光度計測得的是樣品表面信息平均化的信號,得到的是一條熒光光譜,這個新的系統能夠對樣品表面進行分區,從而獲得不同區域的光譜信號,使得光譜信息細致化了。

        產品簡介

        1.  熒光分布成像系統(EEM View)簡介

        作為熒光分光光度計的配件系統,這是全球首創將相機與熒光分光光度計的完美結合,融合了智能算法的先進技術。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息。

        新型熒光分布成像系統可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內。入射 光經過積分球的漫反射后均勻照射到樣品,利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,結合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像,并利用獨特的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光圖像。

        2.  熒光分布成像系統特點:
        ①測定樣品的光譜數據(反射光、熒光特性)
        ②在不同光源條件下(白光和單色光)拍攝圖像(區域:Φ20mm、空間分辨率:0.1 mm左右、波長范圍:360-700nm)
        ③利用自主研發的分析系統1),分開顯示熒光圖像和反射圖像
        ④根據圖像可獲得不同區域的光譜信息(熒光光譜、反射光譜)

         國立信息學研究所 佐藤IMARI 教授?鄭銀強副教授共同研究成果
        熒光分布成像系統軟件分析(EEM View Analysis)界面(樣品:LED電路板)

         
        樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試
        樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡單!
        豐富的樣品支架

        支持精確測量的校正工具

         
        總結
        以上為熒光分布成像系統的特點和功能結束,這是一種全新的技術,將它配置到熒光分光光度計中,改變了常規熒光光度計只能獲得樣品表面區域平均化信息的現狀,可以查看樣品圖像任意區域的光譜信息,十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領域。

         
        注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途


        Copyright © 2018-2022 柜谷科技發展(上海)有限公司 版權所有 地址:上海市浦東新區曹路鎮金海路2588號B217室 備案號:滬ICP備19046444號-1 

        国产激情久久久久影院老熟女免费
        1. <tbody id="jndlx"><span id="jndlx"></span></tbody>
          <menuitem id="jndlx"><strong id="jndlx"><menu id="jndlx"></menu></strong></menuitem>
          1. <tbody id="jndlx"><div id="jndlx"></div></tbody>
          2. <track id="jndlx"></track>